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  能够应用于一般粉末样品、液体样品、纳米资料、药品、半导体、薄膜样品的物相判定，晶体结构剖析

  • 测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）

  • CBO穿插光路，供给聚集光路及高强度高分辩平行光路（带Mirror）

  粉末样品请预备至少30mg。需求粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm，厚度不超出15mm，需求注明测验面，测验面需求平坦光亮。